Besplatna dostava putem Box Now paketomata i Overseas kurirske službe iznad 59,99 €!
Besplatna dostava Overseas kurirskom službom iznad 59.99 €
Overseas 4.99 €
Pošta 4.99 €
DPD 5.99 €
GLS 3.99 €
GLS paketomat 3.49 €
Box Now 4.49 €
Kako kupovati
Pomoć
Dostava
Overseas 4.99 €
Pošta 4.99 €
DPD 5.99 €
GLS 3.99 €
GLS paketomat 3.49 €
Box Now 4.49 €
Besplatna dostava Overseas kurirskom službom iznad 59.99 €
Savjetnik za kupnju
Ovdje smo zbog vas!
+385 21 784 0072
Moj račun
Pridružite se zajednici ljubitelja knjige iz cijelog svijeta i ostvarite mnoštvo pogodnosti.
Izradite besplatni račun
▸
Prazno :-(
0
Besplatna dostava putem Box Now paketomata i Overseas kurirske službe iznad 59,99 €!
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Jezik
Engleski
Engleski
Knjiga
Meki uvez
This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a...
Cijeli opis
Libristo kod: 22289975
?
267 b
TOP
267 b
TOP
105.76
€
Vanjske zalihe
Šaljemo za 5-7 dana
30 dana za povrat kupljenih proizvoda
Moglo bi vas zanimati i
This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, elec
Informacije o knjizi
Puni naziv
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor
Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
Jezik
Engleski
Engleski
Uvez
Knjiga - Meki uvez
Datum izdanja
2018
Broj stranica
550
EAN
9781493982691
ISBN
9781493982691
Libristo kod
22289975
Nakladnici
Springer-Verlag New York Inc.
Težina
1498
Dimenzije
277 x 209 x 33
